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集成电路失效分析新技术 被引量:8

Integrated circuit failure analysis technology
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摘要 通过实例综述了目前国内集成电路失效分析技术的现状和发展方向,包括:无损失效分析技术、信号寻迹技术、二次效应技术、样品制备技术和背面失效定位技术,为进一步开展这方面的工作提供参考。 The status and trend of the IC failure analysis technology in China was reviewed with practical cases, including nondestructive failure analysis, signal tracing, secondary effect,sample preparation and back side failure location。
作者 费庆宇
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第4期1-5,共5页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 集成电路 失效分析 无损分析 integated circuit failure analysis nondestructive analysis
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  • 相关文献

参考文献1

  • 1Wagner L C. Failure Analysis of Integrated Circuits, Tool and Techniques [M] . Holland: Kluwer Academic Publishers, 1999.

同被引文献39

引证文献8

二级引证文献60

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