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JTAG技术的发展和应用综述 被引量：16

An Overview of JTAG Technology: Development and Application
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摘要 JTAG作为测试标准已为芯片设计与制造厂商接受和应用。文章概述了JTAG技术在测试领域的典型应用。同时,随着深亚微米工艺的采用,以及千兆时钟时代的来临和SOC的发展,JTAG已出现很多新的应用和实现方法。着重探讨了JTAG的发展,及其在信号完整性测试、嵌入式调试、差分信号测试等技术中的应用。 As an IEEE test standard, JTAG is accepted and used by many IC design companies and manufacturers, The application of JTAG in printed circuit board is described. The latest development of JTAG technology and its applications in signal integrity test, embedded test and differential signal test are discussed in particular.
作者 胡学良 张春 王志华
机构地区 清华大学电子工程系线路与系统教研室
出处 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2005年第6期624-630,共7页 Microelectronics
基金 国家重大基础研究发展计划"系统芯片(SOC)的若干关键技术"资助项目(G2000036508) 国家高技术研究发展计划"SOC片上系统重大专项"资助项目(2003AA1Z1100) 国家自然科学基金资助项目(60372021)
关键词 JTAG SOC 嵌入式在线仿真器 EJTAG 信号完整性 测试标准 JTAG SOC, EICE EJTAG Signal integrity Test standard
分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献

参考文献53

  • 1IEEE Standard 1149.1-2001. Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture[S]. IEEE Standards Board, 2001.
  • 2Cron A D. IEEE-1149.1 use in design for verification and testability at Texas Instruments[A]. Proc Second Annual IEEE ASIC Seminar and Exhibit[C]. Rochester,NY,USA. 1989. 4-1/1-5.
  • 3Thomas J. Toshiba IEEE 1149.1 (JTAG) development summary[A]. Proc Fourth Annual IEEE Int ASIC Conf and Exhi[C]. Rochester,NY,USA. 1991. 11-1/1-4.
  • 4Wood T J. The test and debug features of the AMD- K7TM microprocessor[A]. Proc Int Test Conf[C]. Atlantic City,NJ,USA. 1999. 130-136.
  • 5Spohrer T, Marquette D, Gallup M. Test architecture of the Motorola 68040[A]. Proc IEEE Int Conf Computer Design: VLSI in Computers and Processors[C]. Cambridge,MA,USA. 1990. 191-194.
  • 6Abu-Lebdeh Z M. ISP, JTAG and more for the MAX architecture[A]. WESCON/'95 Conf Record "Microelectronics Communications Technology Producing Quality Products Mobile and Portable Power Emerging Technologies"[C]. San Francisco,CA,USA. 1995. 200.
  • 7Rahal-Arabi T, Taylor G. A JTAG based AC leakage self test[A]. Symp VLSI Circ[C]. Kyoto,Japan. 2001. 205-206.
  • 8Chung S S, Baeg S H. AC-JTAG: empowering JTAG beyond testing DC nets. Proc Int Test Conf[C]. Baltimore,MA,USA. 2001. 30-37.
  • 9Whetsel L. Adapting JTAG for AC interconnect testing[A]. Proc Int Test Conf[C]. Charlotte,NC,USA. 2003. 96-105.
  • 10IEEE Standard 1149.4-1999. IEEE Standard for a Mixed-Signal Test Bus[S]. IEEE Standards Board, 1999.

二级参考文献4

  • 1董志凌.多芯片组件测试方法[J].电子工业专用设备,1994,23(4):50-57. 被引量：3
  • 2IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture (IEEE 1149.1-2001), IEEE, June 2001.
  • 3MIPS32 4KE (tm) Processor Core Family Software User's Manual, MIPS Technologies Inc., January 2002.
  • 4田骏华.[D].西安交通大学,2002年5月.

共引文献3

同被引文献110

引证文献16

二级引证文献45

微电子学
2005年 第6期

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