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IC测试原理 被引量:7

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作者 许伟达
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第4期284-286,共3页 Semiconductor Technology
  • 相关文献

参考文献6

  • 1Mark Burns, Gordon W.Roberts, An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement, Soft Test Inc.
  • 2The Fundamentals of Memory Test Methodology, Soft Test Inc.
  • 3The Fundamentals of Digital Semiconductor Testing.
  • 4Anthony K.Stevens, Introduction to Component Testing.
  • 5Agilent Application, Notes 1313.
  • 6Agilent Application Notes 1314.

同被引文献31

引证文献7

二级引证文献13

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