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IC测试原理-芯片测试原理 被引量:5

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作者 许伟达
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第7期512-514,519,共4页 Semiconductor Technology
  • 相关文献

参考文献1

  • 1etEtch自动开封机使用操作说明书[K].美国Nisene Technology Group,2004.

共引文献1

同被引文献30

引证文献5

二级引证文献10

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