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TW系列X射线荧光光谱仪
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摘要
TW系列X射线荧光光谱仪是天津市技术物理研究所2006年研制开发成功的最新型X射线荧光元素分析仪器。 TW系列X射线荧光光谱仪采用波长色散X荧光分析方法,该方法比传统的能量色散X荧光分析法的精确度要提高1—2个数量级。特别是对于轻元素(硅、镁、铝、硫、磷)提高的更为明显。
出处
《金属矿山》
CAS
北大核心
2008年第4期159-159,共1页
Metal Mine
关键词
X射线荧光光谱仪
X荧光分析法
物理研究所
分析仪器
波长色散
能量色散
轻元素
天津市
分类号
TH744.16 [机械工程—光学工程]
TQ172.14 [化学工程—水泥工业]
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