期刊文献+

TW系列X射线荧光光谱仪

下载PDF
导出
摘要 TW系列X射线荧光光谱仪是天津市技术物理研究所2006年研制开发成功的最新型X射线荧光元素分析仪器。 TW系列X射线荧光光谱仪采用波长色散X荧光分析方法,该方法比传统的能量色散X荧光分析法的精确度要提高1—2个数量级。特别是对于轻元素(硅、镁、铝、硫、磷)提高的更为明显。
出处 《金属矿山》 CAS 北大核心 2008年第4期159-159,共1页 Metal Mine
  • 引文网络
  • 相关文献
;
使用帮助 返回顶部