长波红外探测器线列生产的测试方法被引量：1

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摘要本文详细描述长波红外(LWIR)HgCdTe(MCT)探测器线列生产的设计、制造和测试方法。组件化制造方式把焦平面列阵(FPA)组件中元件设计和零损失过程中的测试能力放在重要地位,这一方式可实现高性能扫描型LWIR焦平面列阵的可靠的低成本的生产。还深入地讨论红外探测器列阵评价的理论、实践以及自动化。

作者 S.C.H.Wang 李玲

机构地区美国马丁.马丽埃塔研究室

出处《红外》 CAS 1997年第10期10-20,共11页 Infrared

关键词红外探测器焦平面列阵长波红外汞镉碲

分类号 TN215 [电子电信—物理电子学]

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红外

1997年第10期

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