摘要
本文对一种由计算机自动控制并进行数据采集的电子元器件总剂量辐照现场测试系统进行了描述，并通过应用该系统对ＣＭＯＳ数字电路ＣＣ４０６９进行与总剂量辐射同步的电参数在线测量，以及辐照后退火数据的快速采集，研究了ＣＭＯＳ数字电路总剂量辐照在线辐照响应特性和辐照后快速时间退火效应。
A computer controlled on line measurement system for electrical devices in total dose radiation has been set up. By applying it to the on line measurement and data acquisition of CMOS devices in total dose radiation and annealing, the response of CMOS device to total dose radiation and annealing has been investigated. (
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
1998年第5期356-360,共5页
Nuclear Electronics & Detection Technology
关键词
总剂量辐照
在线测试
电子器件
测试系统
Total dose radiation On line measuring Measurement system for electrical devices Application)
