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基于数据库通用自动测试系统
被引量:
9
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摘要
基于数据库的通用自动测试系统能够应用于电子产品的设计、制造和使用维护各个阶段,并适用于各个电子产品,无论是已有的产品还是新开发电子产品。本文阐述了集成这种通用自动测试系统的必要性,用数据库控制通用自动测试系统的原理。
作者
封吉平
张宏伟
蔡金燕
机构地区
军械工程学院电子系
出处
《计算机自动测量与控制》
CSCD
1998年第4期5-8,共4页
Computer Automated Measurement & Control
关键词
电子产品
自动测试系统
数据库
VXI总线
分类号
TN06 [电子电信—物理电子学]
TP336 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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