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数字阵列模块老炼系统的研制 被引量:4

Development of Burn-in System for Digital Array Module
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摘要 数字阵列模块的筛选是剔除早期失效、提高产品使用可靠性的重要手段,而电老炼是其中重要的环节。针对数字阵列模块筛选的具体需求,提出了研究实用化的电老炼系统并详细阐述了系统设计方案,以达到提高产品可靠性的目的。 The screening of digital array modules is an important technique for eliminating infant mortalities and improving the reliability of products,and the electric burn-in is a very important part of it.Based on the specific requirements for the screening of digital array modules,a practical electric burn-in system is developed and the detailed design of the system is presented to improve the reliability of the products.
作者 何宏平 张伟
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2011年第6期39-42,共4页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 数字阵列模块 筛选 电老炼系统 设计方案 digital array module screening electric burn-in system design
  • 相关文献

参考文献2

  • 1GJB1032-1990.电子产品环境应力筛选方法[S].[S].,..
  • 2SJ20527A-2003微波组件通用规范[S].2003.

共引文献13

同被引文献16

引证文献4

二级引证文献3

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