摘要
为了更好地满足生产质量要求,严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上,文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高,功能更加强大,测试向量越来越大,测试时间也越来越长。为了降低测试成本,Teradyne J750测试系统以测试速度快的特点,顺应测试行业的发展,在行业中得到了广泛的应用。文中以74HC123芯片为例,对于一些数字电路关键测试技术在Teradyne J750测试机上的调试做出了较详细的阐述。
With higher integrated, more powerful function and more testing vector, the time spent in testing gets longer. To reduce the cost, Teradyne J750, a fast speed testing system is widely used in the industry. Just take the 74HC123 circuit for an example, some key technologies for how to debug on J750 is made more elaborated.
出处
《电子与封装》
2013年第6期10-12,28,共4页
Electronics & Packaging
