期刊文献+

磁光记录薄膜磁光特性参数测量的外推方法

Extrapolation Techniques on Measurement of Kerr Effect for Direct Over write Magneto optical Films
下载PDF
导出
摘要 本文采用自制的一种磁光特性测试仪器和 Romberg外推算法 ,对于 SONY公司的一种 640 M直接重写磁光盘 ,在 2 4 5~ 350 K温度范围内 ,获得它完整的磁光温度特性 ,包括克尔角与温度的关系曲线和矫顽力与温度的关系曲线。 This paper is based on instrumentation of magneto optical effect detection by our design and Romberg algorithm,and obtains indirectly temperature dependence of Kerr effect in temperature range of 245~350K for 640 M magneto optical disk of SONY corp..The results show that values of extrapolation are an agreement with theoretical model computing.
作者 李震 蔡长波
出处 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2001年第2期115-117,共3页 Laser & Infrared
关键词 外推算法 磁光特性测量 磁光记录薄膜 extrapolation technique interpolation magneto optical film Kerr effect measurement of magneto optical effect.
  • 引文网络
  • 相关文献

参考文献2

共引文献88

;
使用帮助 返回顶部