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边界扫描测试的原理及应用设计 被引量:17

The Principle Of Boundary-Scan Testing And Its Application Design
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摘要 文章介绍了边界扫描测试的原理 ,分析了联合测试行动组JTAG控制器的逻辑状态 ,并给出了JTAG测试具体应用的VHDL原代码和逻辑仿真波形。利用JTAG接口可以方便地进行复杂IC芯片连接的故障定位 ,灵活控制IC芯片进入特定的功能模式等。
出处 《电子技术(上海)》 2001年第10期29-32,共4页 Electronic Technology
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