期刊文献+

粗糙薄膜表面的原子力显微镜研究和多重分形分析(英文) 被引量:2

AFM study and multifractal analysis of rough film surfaces
下载PDF
导出
摘要 用一系列生成元模拟了具有不同特征的、与原子力显微镜图像相似的规则粗糙表面。详细讨论了规则粗糙表面多重分形谱参数的意义。并通过与方均根粗糙度 (rms)和简单分形维数D0 的比较 ,描述了多重分形分析的优点。 Regularly rough surfaces, similar to the atomic force microscope (AFM) images, with different characteristics have been simulated by generation units. The parameters of multifractal spectrum obtained from the regularly rough surfaces have been discussed in detail. Merits of the multifractal analysis are demonstrated by comparing these parameters with root mean square roughness (rms) and simple fractal dimension D 0. The surface topographies of ZnO films and polymer PtBuA thin films measured by AFM are analyzed by multifractal.
出处 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第3期307-316,共10页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society
基金 NationalNatureScienceFoundationofChina (No .1 0 0 2 5 42 0 2 0 0 75 0 2 6 ) FoundationforHighPerformanceComputing FoundationofChineseEducationCommitteeandFoundationofChineseAcademyofScience
关键词 原子力显微镜 原子力显微术 多重分形分析 薄膜表面 粗糙度 分形维数 Atomic force microscopy multifractal analysis film surface
  • 引文网络
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献8

  • 1Wu Z Q,Proc .Japan ChinaJointSeminaronAtomicLevelCharacterization,1998年
  • 2Li H,Phys Rev,1996年,B53卷,16631页
  • 3Li H,Phys Rev,1995年,B51卷,13554页
  • 4Wang B,Solid State Commun,1995年,96卷,69页
  • 5Lee C K,Surf Sci,1995年,325卷,294页
  • 6Lee J,Phys Rev Lett,1988年,61卷,2945页
  • 7孙霞,物理学报,2000年,49卷,854页
  • 8Rao M V H,Appl Phys Lett,1994年,65卷,124页

共引文献54

同被引文献14

引证文献2

二级引证文献7

;
使用帮助 返回顶部