摘要
采用了蒙特卡罗程序EGS5对6~ 20 keV同步辐射低能X射线自由空气电离室的电子损失修正因子和散射荧光修正因子进行模拟计算.结果表明,对于能量范围6~ 20 keV的低能X射线,电子损失修正因子的影响可忽略不计;而当能量增加时,荧光散射修正因子数值逐渐增加.
EGS5 Monte Carlo program was used to simulate the electronic loss correction factor and the scattering fluorescence correction factor for the 6 ~ 20 keV low - energy X rays parallel plate free - air ionization chamber. The results show that the influence of the electron loss correction factor can be neglected in the energy range 6 ~ 20 keV, the value of the scattering fluorescence correction factor increases in the same energy range.
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
北大核心
2015年第12期1163-1166,共4页
Nuclear Electronics & Detection Technology
基金
国家自然科学基金项目"基于同步辐射的硬X射线探测器标定方法及关键技术研究"(11375227)
国家自然科学基金项目"(10-100)ke V单能X射线源注量测量方法研究"(11505178)
关键词
同步辐射
自由空气电离室
低能X射线
EGS5蒙卡模拟
电子损失修正因子
散射荧光修正因子
Synchrotron radiation
Free-air ionization chamber
low-energy X rays
EGS5 Monte Carlo simulation
electron loss correction factor
scattering fluorescence correction factor