摘要
阐述数字集成电路测试系统的主要结构、基础性质、测试技术的应用,包括电路的功能测试、直流参数测试、交流参数测试法。
This paper expounds the main structure,basic properties and application of test technology of digital integrated circuit test system,including circuit function test,DC parameter test and AC parameter test.
作者
张昆
ZHANG Kun(Huizhou Engineering Vocational College,Guangdong 516000,China)
出处
《电子技术（上海）》
2021年第8期212-213,共2页
Electronic Technology
关键词
数字集成电路
测试技术
参数测试
digital integrated circuit
test technology
parameter test
