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集成电路晶圆探针测试综述

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摘要 介绍了集成电路制造的测试的重要性,对晶圆探针测试的意义进行了进一步的分析,对晶圆探针测试的典型项目进行了简述,列出了测试分析过程、测试目的及测试方法。 并对集成电路测试的发展进行了展望。
作者 卓红标
出处 《中文科技期刊数据库(全文版)工程技术》 2016年第9期236-236,238,共2页
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