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平面连杆机构在芯片测试装置设计中的应用

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摘要 结合实际需求,本文通过实例阐述了平面连杆机构在芯片测试装置设计中的应用,通过确定机构的自由度和运动副来反向推导 手动测试装置各部件的设计,大大提高了设计的效率和准确率。
作者 石全伟
出处 《电子乐园》 2019年第26期43-44,共2页
分类号 C [社会学]
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