半导体集成电路电源拉偏测试研究

经济在快速发展,社会在不断进步,电力在我国发展十分迅速,半导体集成电路产品的详细规范或数据手册中一般都规定了电 源拉偏要求。为了达到该要求,一般而言,IC 产品的测试应覆盖电源电压规定的范围,直观的解决方案就是在所有可能的电源电压条件下 对所有的参数进行测试和验证。但是在实现过程中,考虑到测试效率和测试成本等因素,需要确定不同门类产品各类参数的最坏电源电压 条件,从而进行针对性的拉偏测试,用于提高测试效率并降低成本。