摘要
磁共振图像和图像解析软件被用来探究痫症(特发性全面性癫痫)病人大脑皮质形态超微结构的异常变化。方法:利用27名初次就诊的痫证病人(XZ组)和29名健康人(HC组)的大脑3D-T1磁共振原始图像。其次应用Freesurfer软件来识别脑回,并且测算每个脑区皮质体积、厚度、表面积。最后我们用协方差分析检验,比较两组大脑皮质结构的差异,并且利用脑图反映异常脑区的定位位置。结果:XZ组大脑左右半球皮质体积、厚度、表面积与HC组比较,差异均无意义。与HC组相比,XZ组皮质体积异常改变的区域为右侧眶额皮质。皮质厚度异常的区域为双侧额上回(背侧)、双侧中央后回、双侧中央前回、左侧舌回及楔叶、右侧内嗅皮质。无皮质表面积异常改变的区域。在各大脑皮质下核团中,痫证组双侧海马体积及双侧杏仁体体积缩小,左侧尾状核体积增大。结论:痫证患者大脑皮质细微结构在发病早期就发生了异常改变,皮质厚度在检测痫证大脑皮质形态异常改变方面是一个敏感指标。为痫证的中医辨证论提供新的视角。
