摘要
应用磁共振高清图像及先进的图像分析软件,研究正常人大脑皮质偏侧性与特发性全面性癫痫患者的差异性。方法:从29名正常人(NC)和27名特发性全面性癫痫患者(IGE)获得高分辨率三维T1图像。利用Freesurfer软件,基于脑回的感兴趣区域(ROI)计算每个脑区皮质体积、厚度、表面积的具体数值。采用协方差检验分析,比较两组差异。以上存在差异的脑区,运用配对t检验进行组内比较,进而分析两组大脑皮质偏侧性的不同。结果:两组大脑皮质体积存在差异的脑区为眶额回,两组偏侧性都存在;两组皮质厚度不同的脑脑区为:中央后回、舌回、楔叶、中央前回、额上回、内嗅皮质,IGE组偏侧性出现保持、消失、出现的现象;两组皮质表面积不同的脑区为海马旁回,IGE组偏侧性消失。结论:特发性全面性癫痫患者大脑皮质微结构与正常人存在不同。皮质厚度在检测IGE患者大脑皮质形态异常改变方面是一个敏感指标。正常人大脑皮质偏侧性与癫痫患者是不同的。
