电子工程测试技术的环境发展应用分析

随着现代化电子科学技术的迅猛发展,电子产品细致化程度不断升高,结构逐渐细化、工序逐渐增加、制造工艺逐渐复杂,由此在生产制造环节埋下了一系列隐患。随着集成化、精密化程度的提高,存在检测费用高昂和检测难度增大等问题,所以需要对其进行测试性分析与设计。通过分析,能够优化测试点布局,提高诊断效率、降低测试成本,同时增强设备的可靠性与可维护性。因此,本文围绕电子系统测试性的辅助分析与设计这一项技术展开研究,其中重点研究多故障诊断的最优测试序列生成问题。