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电子元器件的老化测试问题

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摘要 伴随着信息科技的飞速发展,它对人们的工作、生活产生了深远的影响。结合自身从事电子元器件管理的实践经验,多角度分析电子元器件老化测试系统的类型的基础上,结合实际来探讨了影响老化测试系统性能的因素,最后在此基础上,较为详细地论述了电子元器件在老化测试环节中应用设备的相关问题,希望对今后全面提升电子元器件的老化测试水平有所帮助。
作者 叶雪明
出处 《中国科技期刊数据库 工业A》 2024年第10期0011-0014,共4页
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