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光度法测定片状五氧化二钒中的硅 被引量:7

Determinatior Silicon of Vancedium(Ⅴ) Oxide by Photometry
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摘要 片状五氧化二钒是冶金产品,它的晶体结构发生了变化。本文主要通过碱熔法测定其中硅的含量,彩了标准中加入基体的方法消除了干扰,并对钒铁标样进行了没定,此法可直接用于生产中,结果令人满意。 A piece of Vanadium(Ⅴ) Oxide is a procuct of metallurgy,The structure of the crystal lattice have been changcd.Dissolve it by base and dctermination.The quantity of silicon.pemove the interferon through adding to matrices.The proposed methocl have been satisfactorily applied to the analysis of the produce.
作者 裴秀玲
出处 《有色矿冶》 2005年第5期63-64,共2页 Non-Ferrous Mining and Metallurgy
关键词 光度法 片状五氧化二钒 photometry piece of vanadium(Ⅴ) oxide silicon
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