用分析型透射电镜检测稀土窄带荧光粉的元素组分

本文用分析型透射电镜检测了稀土窄带荧光粉（Y,Eu）_2O_3、（Ce、Tb）MgAl_(11)O_(19)和（Ba,Eu）Mg_2Al_(16)O_(27)的基质元素组分以及激活元素含量。发现某些质差产品的元素组分远远偏离最佳配比,并存在杂质污染。此分析为如何提高荧光粉质量提供了依据。