荧光灯阴极位降的外探针测量

一、引言 荧光灯是当前最主要的室内照明光源之一,由于它具有高光效节能的优点,得到了愈来愈广泛的应用, 随着荧光灯的大量使用,寻找一种简便、快速的鉴别荧光灯内在质量（包括寿命）的方法,已提上了议事日程。测量灯的输出光通量和光效,果然是评价灯质量指标的重要方法,但这种方法难以预期灯的全寿命。我们知道灯的全寿命主要取决于阴极寿命。在荧光灯的工作过程中,由于阴极中电子发射材料的不断损失,最后导致阴极失效,灯泡寿终。阴极中电子发射材料的损失速率与电子发射材料的质量、制灯工艺（特别是排气工艺）等因素有关,也就是说在阴极发射材料的涂敷总量不变时,工艺或材料有缺陷的灯,有较大的电子发射材料损失,它的寿命也较短。可惜直接测量电子发射材料的损失率有很大的困难,难以作为评估荧光灯寿命的方法。