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悬浮液进样等离子体发射光谱分析纳米碳化硅

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摘要 本文主要讨论悬浮液雾化ICP-OES分析纳米SiC粉末。使用PEI剂来分散和稳定SiC悬浮液,并通过Zeta电位测量、SEM形貌以及光谱信号稳定性等来表征悬浮液,并对结果进行了讨论。
出处 《光谱仪器与分析》 2006年第Z1期107-109,共3页
  • 相关文献

参考文献3

  • 1A.Fisher,M.W.Hinds,S.N.Nelms,D.M.Penny,P.Goodall.Atomic spectrometry update.Industrial analysis:metals,chemicals and advanced materials[].Journal of Analytical Atomic Spectrometry.2002
  • 2Wang Z,Ni Z M,Qiu D R,Chen T Y,Tao G.Y,Yang P Y. Journal of Analytical Atomic Spectrometry . 2004
  • 3Wang Z,Ni Z M,Qiu D R,Tao G.Y,Yang P Y. Journal of Analytical Atomic Spectrometry . 2005

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