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基于NIOS边界扫描测试平台的开发 被引量:2

Development of Boundary Scan Test Platform Based on Nios
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摘要 阐述一种新颖的基于NIOS边界扫描测试平台的设计,提出了采用SOPC技术的一种更加灵活、高效的嵌入式系统新解决方案.该方案将边界扫描主控器系统的多功能模块集成在Altera公司推出的低成本、高密度、具有嵌入式NIOS软核CPU的现场可编程门阵列(FPGA)上,大大提高了系统设计的灵活性、边界扫描的测试效率.同时USB接口技术的应用使得边界扫描测试系统具有热插拔,传输速率快等优点.详细论述了具有自主知识产权的JTAG总线控制模块的设计和NIOS平台上USB固件开发.实验结果表明,此测试平台的设计正确有效,能够进行精确的故障诊断. The paper describes an original design of Boundary Scan Test System based on NIOS and brings up a more flexible and effective embedded system solution, which makes use of SOPC technology. This scheme integrates multiple function modules on a low cost and high density FPGA, which is developed with embedded NIOS CPU by Altera corporation. It improves the flexibility of design, testing efficiency of boundary scan system and speed rate of fetching data. At the same time, the application of USB interface technol...
出处 《电子器件》 CAS 2007年第6期2129-2132,共4页 Chinese Journal of Electron Devices
基金 黑龙江省自然科学基金资助(F2004-13) 哈尔滨市培养学科后备带头人基金(2004AFXXJ054)
关键词 边界扫描测试 NIOS USB 嵌入式 boundary-scan test NIOS USB Embedded
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献4

  • 1[1]Igor Mohor, Boundry-Scan Architecture and compliance to IEEE Std 1149.1, www.opencore.org
  • 2[2]TI 公司 IEEE Std. 1149.1 ( JTAG ) Testability 手册 1997
  • 3[3]Michael Keating, Pierre Bricaud, Reuse Methodology Manual foe on-chip designs, second edition, Kluwer Academic publishers, Boston,Dordrecht, London, 1999;第3章:49~50
  • 4[4]www.ti.com/sc/jtag/jtaghome.htm

共引文献18

同被引文献11

引证文献2

二级引证文献3

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