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基于硅基PZT微力传感器标定系统的初步研究

Preliminary Study of Calibration System Based on Silicon PZT Microsensor
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摘要 采用双晶片探头和电子天平对PZT微力传感器进行静态力标定,进而利用双晶片探头和电荷放大器对PZT微力传感器进行准静态标定,微小信号检测通过锁相放大器来实现.PZT薄膜在基体Pt/Ti/SiO2/Si<100>上用溶胶-凝胶法制备,然后在600℃下退火.PZT微力传感器完全由MEMS体硅加工工艺来实现.
机构地区 大连理工大学
出处 《中国机械工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第z1期372-374,共3页 China Mechanical Engineering
基金 国家自然科学基金资助项目(90207003,50305001)
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参考文献6

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