摘要
光电经纬仪跟踪架系统研制过程,利用传统的设计方法缺乏统筹考虑,无论在设计阶段还是在对样机寻找薄弱环节及敏感参数上都很困难,更谈不上对各个影响因素进行综合考虑和分析及提出相应对策.根据机电耦合的本质,从机电一体化的角度考虑,建立伺服控制系统与跟踪架机械结构统一的数学分析模型,利用CAE软件(MSC PATRAN/NASTRAN),实现对跟踪架在设计阶段的模拟与分析,快速找出影响跟踪架性能的环节及敏感参数,缩短研制周期,为系统的优化设计开辟了新途径.
出处
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
2004年第z2期10-13,共4页
Optics and Precision Engineering