摘要
在测得Al0.26Ga0.74As:Sn混晶中两类类DX中心的电子热俘获势垒精细结构后,研究和确定了其相关的束缚能、晶格驰豫能和光离化能.采用第一原理赝势法的计算和分析结果表明,Sn施主杂质次近邻Al/Ga原子的不同局域组分所引起的Sn杂质及其最近邻As原子的不同晶格驰豫,是产生两类类DX中心能级精细结构的主要原因.
The corraspondent values of binding energy, lattices relaxation energy and optical ionization energy of two DX - like centers in Al0.26Ga0.74 As: Sn alloy semiconductors were deduced after their fine structures of capture barrier were obtained. The ab initio calculations show that fine structures of the two DX-like centers are mainly contributed to different local configurations of the second nearest Al/Ga atoms of Sn donor impurities caused by the alloy random effect.
出处
《红外与毫米波学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第z1期83-86,共4页
Journal of Infrared and Millimeter Waves
基金
国家"863"计划(批准号715-010-0022)
国家自然科学基金(批准号69976023)
福建省自科学基金(批准号A0020001)以及教育部基金部分资助课题