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一种新型大尺寸长度校准装置的研制 被引量:1

A Novel Calibration System for Large Dimension Measuring Instruments
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摘要 介绍了一种新型的大尺寸长度校准装置,该装置解决了激光干涉仪等高精度大尺寸长度测量仪器的实验室校准与溯源问题.通过采用三路相干光进行测长,根据两辅助光路与主光路的测长偏差计算阿贝角,实现了阿贝误差的实时补偿.利用标准双频激光干涉仪测试了阿贝误差的补偿精度,35 m测量范围内的比对误差小于±3μm.测量精度达到了单光路同轴测量的水平.
出处 《计量学报》 CSCD 北大核心 2006年第z1期92-95,共4页 Acta Metrologica Sinica
  • 相关文献

参考文献2

  • 1[1]Swyt D A,et al.Developments at NIST on traceability in dimensional measurements[J],Proc SPIE,2001,4401:245~252.
  • 2[2]Nakamura L,et al.Development of Coordinate Measuring System with Tracking Laser Interferometer[EB/OL].Http://www.Ptb.de/en/org/5/52,2002.

同被引文献13

引证文献1

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