半导体双极型功率IC的温度自检电路

Temperature Self-Measurement Circuit of the Semiconductor Ambipolar Power IC

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摘要功率集成电路的功率密度越来越高,发热问题越来越严重.大功率IC的热问题的优化设计与验证变得比大功率器件的电模型更加重要.论文分析了半导体器件的温度特性,提出一种温度测量电路,能够测量出基片的温度.当基片温度达到芯片承受的最大温度时,来自电路本身的信号自动启动风扇或半导体制冷器进行散热.

作者刘桥王永杰

机构地区贵州大学

出处《昆明理工大学学报（理工版）》 2005年第z1期200-202,共3页 Journal of Kunming University of Science and Technology(Natural Science Edition)

关键词功率集成电路热阻温度测量

参考文献7

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昆明理工大学学报（理工版）

2005年第z1期

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