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数模混合电路测试方法的研究 被引量:1

Research About the Ways of Mixed Circuit Test
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摘要 数模混合电路测试是一个广泛被关注的前沿课题,解决这个问题意义重大而任务艰巨,它面临着许多测试上的难点。对国内外现已提出的一些重要数模混合电路测试方法进行了总结,并分析了它们各自的优缺点。 The testing of mixed circuit is an advanced subject paid close attention extensively. It is significant and difficult to solve this problem because mixed circuit test faces many problems which isn't easy to solve.Some important methods of mixed circuits test are summarized and their traits are analyzed.
作者 黄彩 汪滢
出处 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第z1期148-149,152,共3页 Chinese Journal of Scientific Instrument
关键词 混合电路 数字信号处理 离散事件系统 瞬态响应 mixed circuit Digital signal process Discrete event system Transient response
  • 相关文献

参考文献4

  • 1[1]Linda S. Milor. A tutorial introduction to research on analog and mixed-signal circuit testing. IEEE Transcactions on Circuits and Systems. Analog and Digital Processing Ⅱ ,1998,45(10) :1389~1405.
  • 2[2]A. Salams, J. Starzyk, J. Bandler. A unified decomposition approach for fault location in large analog circuits.IEEE Trans. , 1983,25 : 6367 ~ 6368.
  • 3[3]M.A. A1-Qutayri, P. R. Shepherd. On the testing mixed-mode integrated circuits. Journal of Semicustom Ics, 1990,7(4) : 32~ 39.
  • 4张巍,夏立.用DES理论测试数模混合电路[J].系统工程与电子技术,2001,23(10):19-21. 被引量:8

二级参考文献2

  • 1Feng Lin,Int J Circuit Theory Appl,1997年,25卷,81页
  • 2Feng Lin,Proceeding of 36th Midwest Symposium on Circuit and Systems IEEE,1993年,344页

共引文献7

同被引文献13

引证文献1

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