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控制图在火花源原子发射光谱分析过程控制中的应用
Application of control chart in the analytical control process by spark source atomic emission spectrometry
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摘要
近年来随着质量体系认证,特别是实验室认可在我国的不断开展,通过监视和统计分析由检测过程获得的数据,采取控制措施,使检测数据的不确定度连续保持在技术的要求之内变得非常必要.本文通过建立火花光谱仪分析S含量的x-R控制图,对火花光谱仪的检测结果进行控制,使它能够稳定地提供准确、可靠的高质量的检测数据.
作者
高良豪
出处
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第z1期48-50,共3页
Metallurgical Analysis
关键词
控制图
平均值
极差
控制上限
控制下限
分类号
O213.1 [理学—概率论与数理统计]
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冶金分析
2004年 第z1期
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