一种新型的可编程存储器BIST设计被引量：1

A New Design of Programmable Memory BIST

下载PDF

导出

摘要本文提出一种新型的可编程存储器BIST控制器设计.它使用新型的指令格式,可以实现各种March算法.通过使用这种指令格式能减少指令数据量和字节内故障的测试时间.为了进行诊断测试,在BIST控制器设计中加入诊断模块,能够输出故障地址和故障操作.

作者谈恩民张勇

出处《电子测量与仪器学报》 CSCD 2004年第z2期648-651,共4页 Journal of Electronic Measurement and Instrumentation

基金广西科学基金项目(桂科青0135024)

关键词 BIST SRAM测试 MARCH算法可编程

参考文献4

1[1]van de GoorADJ. Using March Tests to Test SRAMs. IEEE Design & Test of Computers. 1993, Volume:10:8-14
2[2]van de GoorADJ. March LR: a test for realistic linked faults. 14th IEEE VLSI Test Symposium.Princeton, 1996:272-280
3[3]van de Goof AD J. A systematic Methodfor ModifyingMarch Tests for Bit-OrientedMemories into Tests for Word-Oriented Memories. IEEE Transactions on Computers. 2003, Volume:52:1320-1331
4[4]Zarrineh K. On programmable memory built-in self test architectures. Design Automation and Test in Europe 1999 Proceedings. 1999:708-713

1赵学梅,叶以正,陈春旭,时锐.针对嵌入式Cache的内建自测试算法[J].计算机辅助设计与图形学学报,2005,17(1):110-118. 被引量：4
2Truong K.A simple built-in self test for dual ported SRAMs[A].Memory Technology,Design and Testing[C].2000:79-84.
3Dostie B N,et al.Serial interfacing for embedded tesing[J].IEEE Design and Test of Computers,1990,7(2):52-63.
4Wu Y.Built-in self-test for multiport RAMs[A].Proc.of the16th Asian Test Symposium[C].Akita,1997,398-403.
5Zarrineh K,On programmable memory built-in self-test architectures[A].Design Automation and Test in Europe 1999 Proceedings[C].1999:708-713.

电子测量与仪器学报

2004年第z2期

内容加载中请稍等...