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表面响应法在电子组件热分析中的应用 被引量:1

Applications of response surface methods in thermal analysis of electronic parts
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摘要 本文将有限元模拟与基于统计试验的表面响应法(RSM)相结合,对一含有四个芯片的501J模块进行了表面响应分析,得到了一组线性回归方程,利用该方程可预测不同参数下各个芯片的结温.同时评价了RSM响应模型的精度,进一步讨论了各封装参数对芯片结温的影响.
出处 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2004年第z2期1203-1208,共6页 Journal of Electronic Measurement and Instrumentation
  • 相关文献

参考文献2

  • 1[4]B.A. Zahn, "Using Design Experiment Simulation Response to Prepict Thermal Performance Limits of the Heatsink Small Outline Package Considering Both Die Bond and Heatsink Soder Voiding, "1998, Proceedings of the 14th IEEE SEMI-THERMTM Symposium:153~158.
  • 2[5]D.C. Montgomery, Design-Expert and Analysis of Experiments ,3d Edition, John Wiley and Sons, 1991:533-538.

同被引文献7

引证文献1

二级引证文献1

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