xFe-Al2O3颗粒薄膜的XRD分析和GMR效应

XRD analysis and GMR effect of granular films xFe-Al2O3

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摘要对rf溅射法制备的xFe-Al2O3颗粒薄膜,应用X射线衍射仪(XRD)进行了测试和分析,推算了不同样品中Fe粒子的大小和元素面积比.并使用4探针外加磁场法对薄膜的巨磁阻效应进行了分析和讨论.当Fe面积比约为25%时,样品的磁电阻率在1.5T磁场下可达-2.3%.

作者艾尔肯·阿不列木甫尔开提·夏尔丁哈里木拉提·阿扎提

机构地区新疆大学

出处《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第z1期637-638,642,共3页 Journal of Functional Materials

关键词溅射法颗粒薄膜巨磁阻 X-射线衍射

参考文献1

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功能材料

2004年第z1期

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