摘要
采用MW-ECR CVD方法制备的a-Si:H薄膜在模拟太阳光照射下进行光敏性(σp.σ d)和光致衰退测试.对比了有、无热丝辅助沉积的薄膜的光电特性,得出沉积温度是影响薄膜光敏性的主要因素,而适当温度的热丝辅助对于薄膜的光致衰退有一定延缓作用.
出处
《功能材料》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第z1期3198-3200,3204,共4页
Journal of Functional Materials
基金
国家重点基础研究发展计划973资助项目(G2000028201-1)