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双极型半导体电路静电损伤失效分析

Failure Analysis of Analog Device Resulted by Electrostatic Discharge

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摘要从通信设备维修中发现的一例静电放电(ESD)导致模拟电路失效的典型案例分析入手,介绍了在失效分析中把管脚间测试结果同电路内部版图和逻辑图相结合来定位失效部位的方法.

作者张延伟林晨崧

出处《材料工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第z1期172-173,共2页 Journal of Materials Engineering

关键词失效分析模拟器件静电放电

分类号 TN304.0 [电子电信—物理电子学]

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材料工程

2003年第z1期

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