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MEMS动态测试系统中频闪驱动电路的实现 被引量:3

Realization of Stroboscopic Driving Circuit in MEMS Dynamic Testing System
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摘要 在 MEMS动态测试过程中 ,由于 MEMS器件的运动频率都比较高 ,如何获得高速运动的 MEMS器件的清晰图像 ,是MEMS动态特征提取与分析的前提。本文基于机器微视觉的 MEMS动态测试系统 ,设计了一套频闪驱动电路 ,用于采集高速运动的 MEMS器件的清晰图像。从而为后续 MEMS器件动态特征的提取和分析做充分的准备。 According to high speed of MEMS device how to acquire the clear images of it is the precondition in the cause of MEMS dynamic testing. Based on MEMS dynamic testing system this paper designs a set of stroboscopic driving circuits to acquire clear image of high speed MEMS device. It gives full preparation to extract and analysis dynamic characteristics of MEMS devices.
出处 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第z1期380-382,共3页 Chinese Journal of Scientific Instrument
基金 "8 63"高技术研究发展计划资助 ( 2 0 0 2 AA40 40 90 )项目
关键词 MEMS 动态测试 频闪 清晰图像 MEMS Dynamic testing Stroboscopic Clear image
  • 相关文献

参考文献4

  • 1丁衡高.微机电系统的科学研究与技术开发[J].清华大学学报(自然科学版),1997,37(9):1-5. 被引量:22
  • 2张威,张大成,王阳元.MEMS概况及发展趋势[J].微纳电子技术,2002,39(1):22-27. 被引量:41
  • 3[3]C.Q.Davis, D.M.Freeman. Using a light microscope to measure motions with nanometer accuracy[J].Optical Engineering, 1998,37:1299~1304.
  • 4[4]Daniel J.Burns, Herbert F.Helbig. A system for automatic electrical and optical characterization of microelectromchanical devices [J].J. Microelectromech.Syst.,1999,8(4):473~482.

二级参考文献12

  • 1周兆英,微米纳米科学与技术,1996年,2卷,1期,1页
  • 2Kovaes G T A.Micromachined transducers sourcebook.McGraw-Hill.1998,2.
  • 3Peterson K E.Silicon as a mechanical material.Proceedings of IEEE,1982,70 (5) .
  • 4Fujita H.Microactuaors and micromachines.Proceedings of the IEEE,1998,86 (8) :1721.
  • 5Tang W C.MEMS programs at DRAPA (ppt file),http: ∥www.darpa.mil/MTO/MEMS,2000.
  • 6Fukuda T,Menz M (Edited by) .Micro mechanical systems:principles and technology,Elsevier Science B V,1998.
  • 7Fujita H.Microactuaors and micromachines.Proceedings of the IEEE,1998,86 (8): 1721.
  • 8Fukuda,Menz W (Edited by) .Micro mechanical systems:principles and technology.Elsevier Science B V,1998.
  • 9Kovaes G T A et al.BuNk micromachining of silicon.Proceedings of the IEEE,1998,86 (8): 1536.
  • 10www.sandia.gov

共引文献60

同被引文献22

引证文献3

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