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覆铜板与Anti-CAF 被引量:3

CCL and it's Anti-CAF
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摘要 该文讨论了 CAF的形成机理,影响因素以及如何在 CCL 生产中提高基板的耐 CAF的特性。
作者 杨忠华
出处 《印制电路信息》 2002年第12期20-22,共3页 Printed Circuit Information
关键词 Anti-CAF THB CCL
  • 相关文献

参考文献5

  • 1[1]Conductive Anodic Filament Growth in Printed Circuit Materiasl J.P.Mitchell and T.L.Welsher,Bell Laboratories
  • 2[2]Test Setup,Procedures and Patterns for Conductive Anodic Filament(CAF)and Electrochemical Migration(ECM)Testing,Bob Neves,Microtek Laboratories
  • 3[3]Conductive Anodic Filament Growth Failure,Tarun Amla,Isola Laminate Systems Corporation
  • 4[4]Electrochemical Migration Testing-Evaluating PCB Design,Manufacturing Process and Laminate Material Impacts on CAF Resistance,Karl Sauter,Sun Microsystems Inc.
  • 5[5]Conductive Anodic Filament Resistant FR-4Substrates,William Vamell,Polyclad Technologies

同被引文献4

引证文献3

二级引证文献9

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