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ESPI条纹图像细化处理的研究

Research on Thinning Processing of ESPI Stripe-Image
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摘要   1引言   散斑干涉测量技术是六十年代末发展起来的一种光学测试技术,具有非接触、测量精度高、对环境的防震要求低、可在明光下操作、能进行全场测量等特点,因而广泛地应用于光学粗糙表面的变形测量和无损检测.……
出处 《计算机科学》 CSCD 北大核心 2002年第z2期91-93,共3页 Computer Science
  • 相关文献

参考文献4

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  • 4章毓晋.图像处理和分析.图像工程(上册)[M].北京:清华大学出版社,1999..

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