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MOS器件中寄生双极型晶体管模型参数的提取 被引量:1

Extraction of Model Parameters for Parasitic Bipolar Transistors in MOS Devices
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摘要 在晶体管 GP模型基础上 ,采用 Silvoca公司的 UTMOST模型参数提取程序 ,得到一种双极型晶体管模型参数的提取方法。用此方法对 PCM测试芯片的寄生三极管进行参数提取和模拟 ,模拟结果与测试结果符合得较好。 GP model of bipolar transistor is described A method for extracting model parameters of bipolar transistors is presented based on the UTMOST parameter extraction routine provided by Silvaco The method is applied to the parameter extraction of parasitic bipolar transistors in the PCM test chip The simulation result fits well with the test data
出处 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2002年第5期348-350,共3页 Microelectronics
关键词 MOS器件 双极型晶体管 参数提取 局部优化 全局优化 MOS device Bipolar transistor Parameter extraction Local optimization Global optimization
  • 相关文献

参考文献5

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  • 3[3]Corsi F, Di Ciano M. DC characterization of lateral bipolar devices in standard CMOS technology: a new model for base current partitioning [J]. Solid-State Electronics,1999; 43(5): 883-889.
  • 4[4]Toker A. A novel measurement method for extraction of the base resistance in the BJT [J]. Microelectronic J, 1999; 30(1 ) . 41-44.
  • 5李丹丹,郑增钰.双极型晶体管直流模型参数提取的局部优化方法[J].微电子学,1995,25(2):49-54. 被引量:2

共引文献1

同被引文献6

引证文献1

二级引证文献3

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