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硅机元件损坏检测中存在的问题

Exsisting Problem in Damage Testing of silicon Rectifier Elements
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摘要 概述了硅机元件损坏检测中的不稳定情况 。 Some measures for reducing the unstabilith in damage testing of silicon rectifier elements and their effectiveness is described
作者 赵从甫
出处 《云南冶金》 2000年第S1期119-120,共2页 Yunnan Metallurgy
关键词 元件损坏检测 信号 参数 原因 element damage testing signal parameter reason

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