Zernike矩在精密光学元件疵病边缘定位中的应用

介绍了zernike矩,总结了利用zernike矩在进行边缘检测算法的步骤。由于原zernike算法有其不足之处,针对其不足之处得到改进算法。改进后的zernike矩算法在定位边缘亚象素坐标更加准确。运用改进后的zernike矩对精密光学元件表面疵病进行边缘检测,实验结果表明该方法具有很好的抗噪性,而且使得边缘定位更加精确。