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红外光学系统内部构件热辐射分析 被引量:7

Stray radiaton analysis caused by interior heat radiation in infrared optical system
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摘要 红外光学系统的内部构件由于呈现于光路之中,其表面热辐射将会通过光学系统到达探测像面而引起背景辐射噪声。本文利用LightTools分析软件对一套折反式红外光学系统内部机械构件的主要表面的热辐射进行了分析,得到了探测像面接收到的热辐射的量级。分析了三种不同的表面反射率的情况,能够用于指导如何进行表面处理和结构设计的改善。 Both optical and mechanical components of infrared optical system may be seen from image plane,and their heat radiation can be transfered into the detectors to cause radiation noise.With the help of a analysis software——LightTools,heat radiation of mechanical components of a reflect-refract infrared optical system is analyzed in this paper.The quantity of heat radiation received on image plane is computed under three different surface emissivity.The result can be used to improve the mechanical design.
出处 《光学技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第z1期73-75,79,共4页 Optical Technique
关键词 热辐射 背景辐射 杂散辐射 热辐射抑制 红外光学系统 heat radiation stray radiation stray light suppression infrared optical system
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