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双端口RAM在动态应变仪中的应用

Dual Port RAM Using in Dynamic Strain Gauge
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摘要 本文介绍了双端口存储器;分析了双端口RAM在动态应变仪中的应用.通过双端口的使用解决了数据采集的连续问题,实现了数据采集的低速与计算机的快速之间很好的匹配.
机构地区 华北工学院
出处 《测试技术学报》 2004年第z4期203-206,共4页 Journal of Test and Measurement Technology
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