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ARM开发新型45纳米SOI测试芯片
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摘要
ARM公司近日在IEEE SOI会议上发布了一款绝缘体上硅(SOI)45纳米测试芯片的测试结果。测试结果表明。
作者
孙再吉
出处
《半导体信息》
2009年第6期21-22,共2页
Semiconductor Information
关键词
测试芯片
SOI
体效应
ARM
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
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首款FPGA自适应嵌入式软件工具包提供全芯片可视＇fJc^o控制功能[J]
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Altera和ARM发布业界首款FPGA自适应嵌入式软件工具包[J]
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.今日电子,2013(1):63-63.
5
吴忠杰,林君,周志恒.
基于ARM的车辆检测系统控制单元设计[J]
.电子设计应用,2005(3):106-108.
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半导体信息
2009年 第6期
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