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二维光子晶体中的缺陷数值模拟研究
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摘要
应用On-shell方法研究带缺陷的正方二维圆柱光子晶体,缺陷的引入使得原来不透电磁波的禁带中,出现了缺陷模,即某一波长的电磁波可以透过,计算结果表明缺陷模的频率与透射率随着缺陷的性质,即缺陷的大小和折射率及缺陷两边的层数而变化。
作者
汤炳书
吴正怀
机构地区
连云港师范高等专科学校
滁州师范专科学校
出处
《滁州学院学报》
2000年第4期77-80,共4页
Journal of Chuzhou University
关键词
缺陷
带隙
缺陷模
透射系数
分类号
O734 [理学—晶体学]
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汤炳书,戴丽莉.
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2
汤炳书,徐健良.
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3
汤炳书,沈廷根.
用TMM数值模拟波源对二维光子晶体带隙的影响[J]
.广西物理,2005,26(1):6-8.
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4
汤炳书.
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滁州学院学报
2000年 第4期
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