基因芯片技术更有利于揭秘死产的原因

本文标题为"Karyotype versus Microarray Testing for Genetic Abnormalities after Stillbirth",与前一篇论文一起发表于2012年12月第367卷的《新英格兰医学杂志》上。来自于得克萨斯大学医学分校的研究者使用基因芯片微阵列技术对死产婴儿的染色体进行分析研究,研究表明这种微阵列技术相比过去的核型分析技术更为有效。